KREON TECHNOLOGIES · ESCANEO Y MEDICIÓN 3D
Kreon Zephyr III
Kreon Zephyr III combina escaneo láser azul y palpado para inspeccionar piezas en CMM. Sus variantes de línea de 50, 150 y 300 mm permiten elegir entre el detalle de geometrías pequeñas y la cobertura de superficies extensas; también admite integración en brazos, robots y máquinas herramienta.
- Captura de superficies
- Modelo tridimensional
- Medición sin contacto
Kreon Zephyr IIIEscáneres 3D
Hasta 600.000 puntos/s
Adquiere nubes de puntos densas para analizar la forma de la superficie.
Resolución según la pieza
Separación entre puntos de 15, 50 o 60 µm según la variante; elija en función del detalle que necesita registrar.
Orientación e intercambio
Compatibilidad con cabezales PH10 y rack ACR3 para cambiar posiciones y sensores en la CMM.
Compensación de temperatura
El sensor incorpora compensación térmica para gestionar los cambios de temperatura durante la captura.
DESCRIPCIÓN
Superficies y puntos con Kreon Zephyr III
Kreon Zephyr III es una familia de escáneres 3D de láser azul de Kreon Technologies, diseñada para integrar la digitalización de superficies en la medición con CMM. La nube de puntos representa la geometría capturada; el software de inspección 3D permite compararla con el CAD y evaluar dimensiones y desviaciones.
Un palpador bajo el escáner permite medir características por contacto dentro del mismo campo de medición. La integración reúne control de la máquina, adquisición y análisis en un software compatible. La familia también admite uso en brazos Kreon, robots y máquinas herramienta; el montaje y el flujo de datos se eligen para el sistema donde se utilizará el sensor.
PROBLEMAS QUE RESUELVE
Qué permite resolver Kreon Zephyr III
Orientar el sensor, combinar escaneo y palpado y comparar la superficie medida con el CAD resuelve tareas distintas dentro de la inspección.
Alcanzar distintas caras
El cabezal PH10 compatible cambia la orientación del escáner para capturar varias caras de una pieza en la CMM.
Combinar superficies y contacto
El palpador situado bajo el escáner permite medir características por contacto y escanear superficies en la misma configuración.
Comparar la pieza con el CAD
Los datos de superficie permiten localizar diferencias respecto del modelo nominal mediante el software de inspección compatible.
CAPACIDADES
Cómo se integra la captura en la medición
El sensor, el posicionamiento y el software intervienen en tareas distintas de adquisición y evaluación.
Palpador bajo el escáner
El palpador puede colocarse directamente bajo el escáner para medir características por contacto sin desmontar el sensor. Las coordenadas obtenidas complementan la captura de superficies.
Cabezal motorizado PH10
La compatibilidad con PH10 T, M y MQ permite programar varias orientaciones. La integración puede calibrar automáticamente las posiciones del escáner.
Cambio automático ACR3
Permite alternar el escáner y palpadores específicos desde el rack de la CMM cuando la secuencia necesita herramientas diferentes.
Control y análisis en software
Las configuraciones con Metrolog o PolyWorks reúnen control de la CMM, escaneo y tratamiento de datos. La compatibilidad del controlador determina cómo se integra el sensor con la máquina y el software.
APLICACIONES
Aplicaciones de Kreon Zephyr III
Elija la configuración según el tamaño de la pieza, las características que deben medirse y la cobertura de escaneo necesaria.
Inspección en CMM
Integra la captura de superficies en un programa de medición de la CMM. El software de metrología recibe los datos para compararlos con el CAD y evaluar la pieza.
Geometrías con detalle
La variante Zephyr III 50 utiliza una línea de 50 mm y separación entre puntos de 15 µm para registrar geometrías pequeñas, bordes y ranuras.
Superficies extensas
Zephyr III 300 amplía la línea a 300 mm para cubrir superficies grandes en cada pasada. La elección de la variante depende de la cobertura y el detalle que necesita la pieza.
CONFIGURACIÓN
Elegir entre Zephyr III 50, 150 y 300
La línea láser define la cobertura de una pasada; la separación entre puntos orienta el detalle registrado. El MPE de tamaño expresa el error máximo del escáner al medir el diámetro de una esfera en modo de traslación, según ISO 10360-08. La evaluación de la tolerancia incluye también la CMM y su configuración.
Zephyr III 50: detalle
Línea máxima de 50 mm, resolución de línea de 15 µm y MPE de tamaño de 5 µm. Priorice esta variante para geometrías pequeñas y detalles finos.
Zephyr III 150: uso general
Línea máxima de 150 mm, resolución de línea de 50 µm y MPE de tamaño de 14 µm. Es una alternativa intermedia para control dimensional e ingeniería inversa.
Zephyr III 300: cobertura
Línea máxima de 300 mm, resolución de línea de 60 µm y MPE de tamaño de 26 µm. La línea amplia cubre más superficie por pasada en piezas extensas.
ACOMPAÑAMIENTO
Implementación y soporte
Para incorporar Zephyr III al control de sus piezas, MultiCAM brinda asesoramiento técnico, implementación, capacitación personalizada y soporte. Comparta la pieza, el plano y los datos de su equipo para revisar el sensor y el flujo de medición que necesita.
Asesoramiento para decidir
Analizamos el tamaño, las características y los accesos de la pieza para orientar la elección entre Zephyr III 50, 150 y 300 y su integración con el sistema de medición.
Puesta en uso
Acompañamos la integración del equipo y del software, desde la adquisición por escaneo y palpado hasta la comparación geométrica y el informe de inspección.
Capacitación personalizada
Formación presencial o remota, adaptada a su equipo, para trabajar con captura de superficies, palpado y análisis dimensional. Las capacitaciones de MultiCAM entregan certificado.
Soporte técnico cercano
Un canal de consulta por correo, teléfono o WhatsApp para abordar dudas técnicas durante el uso del sistema. MultiCAM cuenta con acceso a las casas matrices para consultar problemas técnicos y gestionar reparaciones.
PREGUNTAS FRECUENTES
Preguntas para elegir Kreon Zephyr III
¿Qué diferencia hay entre Zephyr III 50, 150 y 300?
Cambian la cobertura máxima de la línea láser y los datos de resolución y error del sensor. El 50 está orientado al detalle de geometrías pequeñas, el 150 a un uso intermedio y el 300 a superficies extensas. Compare tamaño, características y tolerancias de la pieza con las especificaciones de cada variante.
¿Qué necesita una CMM para integrar el escáner?
La CMM, el controlador y el software deben admitir la integración del sensor. Hay configuraciones con Metrolog o PolyWorks; los cabezales PH10 T, M y MQ permiten orientar el escáner y el rack ACR3 aporta cambio automático. Identifique estos componentes para evaluar cómo incorporar Zephyr III a su máquina.
¿Se puede palpar sin retirar Zephyr III?
Sí. Puede colocarse un palpador directamente bajo el escáner para combinar medición de características por contacto y captura de superficies en el mismo campo de medición. Así se alternan ambos métodos sin desmontar el sensor.
¿El escaneo entrega una reconstrucción CAD terminada?
La captura genera datos de superficie. Para reconstruir un modelo de superficies o sólidos, se trabaja después sobre la nube o la malla con un software de ingeniería inversa. Defina qué modelo necesita obtener para elegir también ese tramo del flujo.
Consulte por Kreon Zephyr III
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